咨询热线

4000-355,376

当前位置:首页  >  技术文章  >  X射线荧光光谱法-优点

X射线荧光光谱法-优点

发布时间:2009-11-07      点击次数:1387

 

X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法
首先,与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱,以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高,操作简便,适合于多种类型的固态和液态物质的测定,并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏,强度测量的再现性好,以及便于进行无损分析等。其次,与原子发射光谱法相比,除轻元素外,特征(标识)X射线光谱基本上不受化学键的影响,定量分析中的基体吸收和增强效应较易校正或克服,谱线简单,互相干扰比较少,且易校正或排除。

X 射线荧光光谱法可用于冶金、地质、化工、机械、石油、建材等工业部门,以及物理、化学、生物、地学、环境科学、考古学等。还可用于测定涂层和金属薄膜的厚度和组成以及动态分析等。

在常规分析和某些特殊分析方面,包括工业上的开环单机控制和闭环联机控制,本法均能发挥重大作用。分析范围包括原子序数Z≥3(锂)的所有元素,常规分析一般用于Z≥9(氟)的元素。分析灵敏度随仪器条件、分析对象和待测元素而异,新型仪器的检出限一般可达10-5~10-6克/克;在比较有利的条件下,对许多元素也可以测到10-7~10-9克/克(或10-7~10-9克/厘米3),而采用质子激发的方法,其灵敏度更高,检出限有时可达10-12克/克(对Z>15的元素)。至于常量元素的测定,X射线荧光分析法的迅速和准确,是许多其他仪器分析方法难与相比的。

随着大功率 X射线管和同步辐射源的应用、各种高分辨率 X射线分光计的出现、计算机在数据处理方面的广泛应用,以及固体物理和量子化学理论计算方法的进步,通过X射线光谱的精细结构(包括谱线的位移、宽度和形状的变化等)来研究物质中原子的种类及基的本质、氧化数、配位数、化合价、离子电荷、电负性和化学键等,已经取得了许多其他手段难以取得的重要结构信息,在某些方面(例如配位数的测定等)甚至已经得到非常满意的定量结果。这种研究方法具有不破坏样品、本底低、适应范围广、操作简便等优点,不仅适用于晶体物质研究,而且对于无定形固体物质、溶液和非单原子气体也可以发挥其独特的作用,可以解决X 射线衍射法和其他光谱、波谱技术所不能解决的一些重要难题。

联系我们

天津市金贝尔科技有限公司 公司地址:天津市高新区华苑产业园区海泰创新六路华鼎新区一号3号楼10层   技术支持:化工仪器网
  • 联系人:销售部
  • QQ:178547122
  • 公司传真:86-22-86800320
  • 邮箱:info@king-ber.com

扫一扫 更多精彩

微信二维码

网站二维码