同步 WDXRF 光谱仪多元素化学成分分析时间关键型和高通量应用的理想选择

2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 晶圆分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圆分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 mm）测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

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Micromeritics 3Flex气体吸附仪 提供表面积测定、孔隙率测定、化学吸附和程序升温方法。用于测量微孔固体表面积和孔隙率的高性能气体吸附分析仪集成蒸汽吸附功能，可测量表面疏水性/亲水性或特定应用的吸收率静态和动态化学吸附功能，可表征活性表面单个样品可在一台仪器上实现物理吸附、化学吸附和蒸汽吸附